• 可進行高速測量（每個端口最多 100 萬個記錄點）

• 一臺設備最多可測量20個端口（可同時使用多臺設備）

• 功率計模塊 (MPM-211 / 212/215)

• 電流表模塊 (MPM-213)

概述

MPM-210H 非常適合對多端口光學組件（例如波長選擇開關 (WSS) 和 AWG 模塊）進行插入損耗和 WDL/PDL 測量。通過與配備功率監視器輸出的可調光源（TSL 系列）組合，可以實時消除光源的光輸出波動，并進行高精度的損耗測量。
有關光學表征系統的更多信息，請參閱掃描測試系統 。

特征

• 高速測量
  每個
  端口最多可進行 100 萬點的記錄采樣 每個端口配備兩個存儲器，即使在記錄期間也可以讀取
  最高 100 kHz 的高速采樣是可能的

• 高動態范圍
  -80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
  -70 ~ + 5dBm (MPM-215)

• 高動態范圍（在記錄模式下）
  50dB / 掃描 (MPM-211 / 212)
  70dB / 掃描 (MPM-215)

• 電流表模塊 (MPM-213)
  輸入功率范圍 --70 至 + 10 dBmA

• 配備模擬輸出（MPM-212）

• 最多可安裝5個模塊（最多可同時測量20個端口）

• 波長范圍 1250-1650 nm

• MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型號

運用

• 光功率測量

• IL/WDL/PDL 測量（掃頻測試系統）